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      光刻曝光技術的主要流程及意義

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      文章出處:責任編輯: 發表時間:2013-09-24 10:29:00

        光刻工藝主要步驟

        1、基片前處理

        為確保光刻膠能和晶圓表面很好粘貼,形成平滑且結合得很好的膜,必須進行表面準備,保持表面干燥且干凈。

        2、涂光刻膠

        涂膠的目標是在晶圓表面建立薄的、均勻的,并且沒有缺陷的光刻膠膜。

        3、前烘(軟烘焙)

        前烘的目的是去除膠層內的溶劑,提高光刻膠與襯底的粘附力及膠膜的機械擦傷能力。

        4、對準和曝光(A&E)

        保證器件和電路正常工作的決定性因素是圖形的準確對準,以及光刻膠上精確的圖形尺寸的形成。所以,涂好光刻膠后,第一步是把所需圖形在晶圓表面上準確定位或對準。第二步是通過曝光將圖形轉移到光刻膠涂層上。

        5、顯影

        顯影是指把掩膜版圖案復制到光刻膠上。

        6、后烘(堅膜)

        經顯影以后的膠膜發生了軟化、膨脹,膠膜與硅片表面粘附力下降。為了保證下一道刻蝕工序能順利進行,使光刻膠和晶圓表面更好地粘結,必須繼續蒸發溶劑以固化光刻膠。

        7、刻蝕

        刻蝕是通過光刻膠暴露區域來去掉晶圓最表層的工藝,主要目標是將光刻掩膜版上的圖案精確地轉移到晶圓表面。

        8、去除光刻膠

        刻蝕之后,圖案成為晶圓最表層永久的一部分。作為刻蝕阻擋層的光刻膠層不再需要了,必須從表面去掉。

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